Rasterelektronenmikroskop - Versionsgeschichte

Buechel am 28. Juli 2016 um 15:23 Uhr

2016-07-28T15:23:51Z

← Nächstältere Version		Version vom 28. Juli 2016, 17:23 Uhr
Zeile 1:		Zeile 1:
	[[Datei:Flugasche.jpg\|200 px\|mini\|Flugasche im Rasterelektronenmikroskop (REM)]]		[[Datei:Flugasche.jpg\|200 px\|mini\|Flugasche im Rasterelektronenmikroskop (REM)]]
	Das Rasterlelektronenmikroskop (REM) ermöglicht Abbildungen von Objektoberflächen mit hoher Schärfentiefe und mit Vergrößerungen bis zu 1000000:1 (Lichtmikroskopie bis etwa 2000:1).<br />		Das Rasterlelektronenmikroskop (REM) ermöglicht Abbildungen von Objektoberflächen mit hoher Schärfentiefe und mit Vergrößerungen bis zu 1000000:1 (Lichtmikroskopie bis etwa 2000:1).<br />
	Bei dieser Art des Elektronenmikroskops wandert ein Elektronenstrahl in einem bestimmten Raster über das abzubildende Objekt, wobei über die als Signale aufgefangenen Wechselwirkungen der Elektronen mit dem Objekt das Abbild erzeugt wird. In der normalen Rasterelektronenmikroskopie befindet sich das Objekt im Hochvakuum, was die Beobachtung zum Beispiel von Hydratationsvorgängen im Zementleim erschwert. <br />		Bei dieser Art des Elektronenmikroskops wandert ein Elektronenstrahl in einem bestimmten Raster über das abzubildende Objekt, wobei über die als Signale aufgefangenen Wechselwirkungen der Elektronen mit dem Objekt das Abbild erzeugt wird. In der normalen Rasterelektronenmikroskopie befindet sich das Objekt im Hochvakuum, was die Beobachtung zum Beispiel von [[Hydratation\|Hydratationsvorgängen]] im [[Zementleim]] erschwert. <br />
	Beim environmental scanning electron microscope (ESEM) als Variante der Rasterelektronenmikroskope steht die Probenkammer nur unter einem leichten Vakuum. Eine Beschichtung und ein Trocknen der Proben ist hier nicht erforderlich. Die Betrachtung der Hydratation von Zementleim fällt mit dem ESEM erheblich leichter.		Beim environmental scanning electron microscope (ESEM) als Variante der Rasterelektronenmikroskope steht die Probenkammer nur unter einem leichten Vakuum. Eine Beschichtung und ein Trocknen der Proben ist hier nicht erforderlich. Die Betrachtung der [[Hydratation]] von [[Zementleim]] fällt mit dem ESEM erheblich leichter.

Buechel: Buechel verschob die Seite Rasterlelektronenmikroskop nach Rasterelektronenmikroskop

2016-01-28T16:11:17Z

Buechel verschob die Seite Rasterlelektronenmikroskop nach Rasterelektronenmikroskop

← Nächstältere Version	Version vom 28. Januar 2016, 18:11 Uhr
(kein Unterschied)

Buechel am 26. Januar 2016 um 15:34 Uhr

2016-01-26T15:34:44Z

← Nächstältere Version		Version vom 26. Januar 2016, 17:34 Uhr
Zeile 2:		Zeile 2:
	Das Rasterlelektronenmikroskop (REM) ermöglicht Abbildungen von Objektoberflächen mit hoher Schärfentiefe und mit Vergrößerungen bis zu 1000000:1 (Lichtmikroskopie bis etwa 2000:1).<br />		Das Rasterlelektronenmikroskop (REM) ermöglicht Abbildungen von Objektoberflächen mit hoher Schärfentiefe und mit Vergrößerungen bis zu 1000000:1 (Lichtmikroskopie bis etwa 2000:1).<br />
	Bei dieser Art des Elektronenmikroskops wandert ein Elektronenstrahl in einem bestimmten Raster über das abzubildende Objekt, wobei über die als Signale aufgefangenen Wechselwirkungen der Elektronen mit dem Objekt das Abbild erzeugt wird. In der normalen Rasterelektronenmikroskopie befindet sich das Objekt im Hochvakuum, was die Beobachtung zum Beispiel von Hydratationsvorgängen im Zementleim erschwert. <br />		Bei dieser Art des Elektronenmikroskops wandert ein Elektronenstrahl in einem bestimmten Raster über das abzubildende Objekt, wobei über die als Signale aufgefangenen Wechselwirkungen der Elektronen mit dem Objekt das Abbild erzeugt wird. In der normalen Rasterelektronenmikroskopie befindet sich das Objekt im Hochvakuum, was die Beobachtung zum Beispiel von Hydratationsvorgängen im Zementleim erschwert. <br />
	Beim environmental scanning electron microscope (ESEM) als Variante der Rasterelektronenmikroskope steht die Probenkammer nur unter einem leichten Vakuum. Eine Beschichtung der Proben ist hier nicht erforderlich. Die ~~Charakterisierung~~ der Hydratation von Zementleim fällt mit dem ESEM erheblich leichter.		Beim environmental scanning electron microscope (ESEM) als Variante der Rasterelektronenmikroskope steht die Probenkammer nur unter einem leichten Vakuum. Eine Beschichtung und ein Trocknen der Proben ist hier nicht erforderlich. Die Betrachtung der Hydratation von Zementleim fällt mit dem ESEM erheblich leichter.

Buechel: Die Seite wurde neu angelegt: „Flugasche im Rasterelektronenmikroskop (REM) Das Rasterlelektronenmikroskop (REM) ermöglicht Abbildungen von Objektoberfl…“

2016-01-26T15:22:15Z

Die Seite wurde neu angelegt: „200 px|mini|Flugasche im Rasterelektronenmikroskop (REM) Das Rasterlelektronenmikroskop (REM) ermöglicht Abbildungen von Objektoberfl…“

Neue Seite

[[Datei:Flugasche.jpg|200 px|mini|Flugasche im Rasterelektronenmikroskop (REM)]]
Das Rasterlelektronenmikroskop (REM) ermöglicht Abbildungen von Objektoberflächen mit hoher Schärfentiefe und mit Vergrößerungen bis zu 1000000:1 (Lichtmikroskopie bis etwa 2000:1).<br />
Bei dieser Art des Elektronenmikroskops wandert ein Elektronenstrahl in einem bestimmten Raster über das abzubildende Objekt, wobei über die als Signale aufgefangenen Wechselwirkungen der Elektronen mit dem Objekt das Abbild erzeugt wird. In der normalen Rasterelektronenmikroskopie befindet sich das Objekt im Hochvakuum, was die Beobachtung zum Beispiel von Hydratationsvorgängen im Zementleim erschwert. <br />
Beim environmental scanning electron microscope (ESEM) als Variante der Rasterelektronenmikroskope steht die Probenkammer nur unter einem leichten Vakuum. Eine Beschichtung der Proben ist hier nicht erforderlich. Die Charakterisierung der Hydratation von Zementleim fällt mit dem ESEM erheblich leichter.